Αναλογικές τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας CMOS ολοκληρωμένων κυκλωμάτων

Περίληψη

Στην παρούσα διατριβή παρουσιάζονται τρεις νέες αναλογικές τεχνικές δοκιμής της ορθής λειτουργίας (testing) CMOS κυκλωμάτων. Οι τεχνικές αυτές παρουσιάζουν μια σειρά από σημαντικά πλεονεκτήματα σε σχέση με τις αντίστοιχες ψηφιακές, όπως μικρότερες απαιτήσεις για επιφάνεια πυριτίου, μικρότερη κατανάλωση και υψηλότερη ταχύτητα λειτουργίας. Επομένως οι προτεινόμενες τεχνικές είναι ιδανικές για να ενσωματωθούν στο υπό δοκιμή ψηφιακό κύκλωμα συνεισφέροντας με τον τρόπο αυτό στη σχεδίαση πιο αξιόπιστων κυκλωμάτων. Ένας πολύ γνωστός κώδικας ανίχνευσης λαθών ο οποίος χρησιμοποιείται ευρύτατα είναι ο κώδικας διπλού συρμού. Ο βασικός ελεγκτής του κώδικα αυτού έχει δύο ζεύγη σημάτων στην είσοδό του και ένα ζεύγος στην έξοδό του. Για μεγαλύτερο πλήθος εισόδων χρησιμοποιείται αυτό το βασικό κύκλωμα του ελεγκτή σε δομή δένδρου. Η πρώτη τεχνική που παρουσιάζεται αφορά στον σχεδιασμό ενός παράλληλου αυτοελεγχόμενου ελεγκτή κώδικα διπλού συρμού ο οποίος βασίζεται σε λειτουργία ρεύματος και παρέχει πολ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

In this thesis three novel analog techniques for testing CMOS Integrated circuits are presented. These techniques are based on analog circuits since they offer a number of important advantages compared to classical digital techniques. The advantages are i) less silicon area, ii) lower power consumption and iii) high operating speed. Therefore, the proposed techniques can be embedded in the circuit under test, contributing to the design of more reliable circuits. A widely used error detection code is the Two Rail Code (TRC). The first analogue technique of this thesis is a current mode, parallel TRC checker suitable for the implementation of high fan-in embedded checkers. The new circuit is totally self-checking or strongly code-disjoint for a wide set of realistic faults, including transistor stuck-open faults that are not covered by other TRC checkers in the same category. Designs of this TRC checker in a standard 0.18μm CMOS technology proved the efficiency of the circuit over earli ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/26269
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/26269
ND
26269
Εναλλακτικός τίτλος
Testing digital CMOS ICs with analog techniques
Συγγραφέας
Ματακιάς, Σωτήριος (Πατρώνυμο: Δημήτριος)
Ημερομηνία
2011
Ίδρυμα
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών (ΕΚΠΑ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών
Εξεταστική επιτροπή
Αραπογιάννη Αγγελική
Συβρίδης Δημήτριος
Τσιατούχας Γεώργιος
Πασχάλης Αντώνιος
Χανιωτάκης Θεμιστοκλής
Πεκμεστζή Κιαμάλ
Γκιζόπουλος Δημήτριος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Επιστήμη Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορική
Λέξεις-κλειδιά
Αυτοελεγχόμενοι ελεγκτές; Ελεγκτές κώδικα διπλού συρμού; Ήπια σφάλματα; Σφάλματα χρονισμού; Ενσωματωμένοι αισθητήρες ρεύματος; Δοκιμή IDDQ
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
191 σ., εικ., πιν., σχημ., ευρ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)