Ο ρόλος των σημειακών και εκτεταμένων ατελειών του πυριτίου στη λειτουργία των τρανζίστορ MOS

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/25583
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/25583
ND
25583
Εναλλακτικός τίτλος
The influence of silicon point and extended defects on MOS transistors operation
Συγγραφέας
Σκαρλάτος, Δημήτριος (Πατρώνυμο: Γεώργιος)
Ημερομηνία
2000
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής
Εξεταστική επιτροπή
Στοϊμένος Ιωάννης
Κομνηνού Φιλομήλα
Μανωλίκας Κωνσταντίνος
Καρακώστας Θεόδωρος
Βλασιάδης Οδυσσέας
Παπαδημητρίου Λεωνίδας
Αναγνωστόπουλος Αναγνώστης
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική
Λέξεις-κλειδιά
Πυρίτιο, Διάχυση στο; Πυρίτιο, Ενδοπλεγματικά άτομα; Πυρίτιο, Πλεγματικά κενά; Βρόγχοι εξαρμόσεως; Πυρίτιο, Θερμική οξείδωση; Πυρίτιο, Οξυνιτριδίωση; Υπερκορεσμός ενδοπλεγματικών ατόμων
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
194 σ., εικ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)