Τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας με έμφαση στη χαμηλή κατανάλωση ισχύος

Περίληψη

Η διατριβή ασχολείται με το αντικείμενο του ελέγχου ορθής λειτουργίας κυκλωμάτων κατά τον οποίο λαμβάνεται υπόψη και η συμπεριφορά ως προς την κατανάλωση ισχύος. Οι τεχνικές που προτείνονται αφορούν α) τη συμπίεση ενός συνόλου δοκιμής σε περιβάλλον ενσωματωμένου ελέγχου με χρήση εξωτερικών ελεγκτών, β) την εμφώλευση διανυσμάτων δοκιμής σε περιβάλλον ενσωματωμένου ελέγχου και γ) τη μείωση της κατανάλωση ισχύς και ενέργειας σε περιβάλλον εξωτερικού ελέγχου. Η συμπίεση των δεδομένων βασίζεται στην παρατήρηση ότι ένα διάνυσμα δοκιμής μπορεί να παραχθεί από το προηγούμενό του με την αντικατάσταση κάποιων τμημάτων του. Μεγαλύτερη συμπίεση επιτυγχάνεται όταν γίνει αναδιαταξή διανυσμάτων και αναδιάταξη των φλιπ-φλοπ της αλυσίδας ανίχνευσης. Αν η αναδιάταξη των φλιπ-φλοπ γίνει με βάση τη συχνότητα αλλαγών κατάστασης γειτονικών φλιπ-φλοπ τότε επιτυγχάνεται και μείωση της κατανάλωσης ισχύος. Όσον αφορά τις τεχνικές ενσωματωμένου αυτοελέγχου, μελετήθηκε το πρόβλημα της εμφώλευσης διανυσμάτων δοκιμ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

The dissertation is focused on VLSI testing while power dissipation is also taken into account. The techniques proposed are: a) test data compression in an embedded test environment, b) test set embedding in a built-in self test environment and c) reduction in test power dissipation in an external testing environment. Test data compression is based on the observation that a test vector can be produced from the previous one by replacing some parts of the previous vector with new parts of the current vector. The compression is even higher when the test vectors are ordered and scan cell reordering is also performed. If the scan cell reordering is based on a transition frequency approach then reduction in power dissipation is also achieved. In the case of built-in self test the problem of test set embedding was studied and efficient circuits based on linear feedback shift registers combined with XOR trees or shift registers combined with OR trees were proposed. If the circuits have a regul ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/18021
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/18021
ND
18021
Εναλλακτικός τίτλος
VLSI testing techniques focused on low power dissipation
Συγγραφέας
Μπέλλος, Μάτσιεϊ του Κωνσταντίνος
Ημερομηνία
2005
Ίδρυμα
Πανεπιστήμιο Πατρών. Σχολή Πολυτεχνική. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Εξεταστική επιτροπή
Αλεξίου Γεώργιος
Βέργος Χαρίδημος
Γκούτης Κωνσταντίνος
Καβουσιανός Χρυσοβαλάντης
Νικολός Δημήτριος
Παλιούρας Βασίλειος
Τσιατούχας Γεώργιος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Επιστήμη Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορική
Επιστήμες Μηχανικού και Τεχνολογία
Επιστήμη Ηλεκτρολόγου Μηχανικού, Ηλεκτρονικού Μηχανικού, Μηχανικού Η/Υ
Λέξεις-κλειδιά
Έλεγχος ορθής λειτουργίας κυκλωμάτων; Ενσωματωμένος αυτοέλεγχος; Εξωτερικός έλεγχος; Ενσωματωμένος έλεγχος με χρήση εξωτερικών ελεγκτών; Συμπίεση συνόλου δοκιμής; Αναδιάταξη φλιπ-φλοπ; Εμφώλευση διανυσμάτων δοκιμής; Έλεγχος αθροιστών αριθμητικού συστήματος
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
168 σ., εικ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)