Πειραματική και θεωρητική μελέτη μηχανικών ιδιοτήτων και φαινομένων μεγέθους σε νανοδομές και λεπτά υμένια

Περίληψη

Στα πλαίσια της παρούσας διδακτορικής διατριβής στο πρώτο τμήμα της έρευνας, κατασκευάστηκαν δυο συστήματα λεπτών υμενίων, το καθένα με πάχος φιλμ που κυμαινόταν από τα 100 έως τα 500nm, με την μέθοδο Magnetron Reactive Sputtering. Το πρώτο σύστημα αφορούσε λεπτά υμένια Indium Tin Oxide (ITO) σε υπόστρωμα πυριτίου (σύστημα σκληρού υμενίου σε μαλακότερο υπόστρωμα) ενώ το δεύτερο λεπτά υμένια Cu σε υπόστρωμα πυριτίου (σύστημα μαλακού υμενίου σε σκληρότερο υπόστρωμα). Στην συνέχεια τα δείγματα μελετήθηκαν υποβαλλόμενα σε πειράματα νανοσκληρομέτρησης με ένα εκτενές εύρος φορτίων από 1 έως και 500mN ώστε να μπορέσουν να υπολογιστούν οι νάνο-μηχανικές ιδιότητες (μέτρο ελαστικότητας και σκληρότητα) των δυο διαφορετικών αυτών τύπων συστημάτων. Τα αποτελέσματα για τους δύο διαφορετικούς τύπους υμενίων καταγράφηκαν και συγκρίθηκαν μεταξύ τους οδηγώντας σε ενδιαφέρουσες παρατηρήσεις. Τα εντυπώματα των πειραμάτων νανοσκληρομέτρησης καθώς και οι γειτονικές τους περιοχές ερευνήθηκαν με την χρήση οπτ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

In the context of this PhD thesis in the first part of the research, two thin film systems, each with a film thickness ranging from 100 to 500 nm, were manufactured using the Magnetron Reactive Sputtering method. The first system was Indium Tin Oxide (ITO) thin films on a silicon substrate (hard film on a softer substrate system), while the second thin films of Cu on a silicon substrate (a soft film on a harder substrate system).Subsequently, the samples were studied by nanoindentation experiments with a wide range of loads between 1 to 500mN in order to be able to calculate the nano-mechanical properties (elastic modulus and hardness) of the two different types of systems. The results for the two different types of films were recorded and compared with each other, leading to interesting observations.Imprints of nanoindentation experiments as well as their neighboring areas were investigated using optical microscopy, atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM) ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/43428
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/43428
ND
43428
Εναλλακτικός τίτλος
Experimental and theoretical investigation of mechanical properties and size effects in nanostructures and thin films
Συγγραφέας
Σιδηρόπουλος, Αλέξανδρος (Πατρώνυμο: Δημήτριος)
Ημερομηνία
2017
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Πολυτεχνική. Τμήμα Πολιτικών Μηχανικών
Εξεταστική επιτροπή
Αυφαντής Hλίας
Καραπαναγιώτης Ιωάννης
Κωνσταντινίδης Αβραάμ
Αυφαντή Αικατερίνη
Παπανικολάου Βασίλειος
Λογοθετίδης Στέργιος
Χαριτίδης Κωνσταντίνος
Επιστημονικό πεδίο
Επιστήμες Μηχανικού και ΤεχνολογίαΜηχανική Υλικών
Επιστήμες Μηχανικού και ΤεχνολογίαΝανοτεχνολογία
Λέξεις-κλειδιά
Νανομηχανικές ιδιότητες; Φαινόμενα μεγέθους; Νανοδομές; Λεπτά υμένια
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
2, xxii, 300 σ., εικ., πιν., σχημ., γραφ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)