ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗ ΚΑΙ ΕΝΤΟΠΙΣΜΟΣ ΤΟΥ ΦΩΤΟΣ ΣΕ ΑΜΟΡΦΑ ΗΜΙΑΓΩΓΙΚΑ ΛΕΠΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΚΑΙ ΥΠΕΡΠΛΕΓΜΑΤΑ

Περίληψη

Η ΔΙΑΤΡΙΒΗ ΜΟΥ ΕΣΤΙΑΖΕΤΑΙ ΣΕ ΔΥΟ ΘΕΜΑΤΑ: ΣΤΟ ΠΡΩΤΟ, Η ΑΙΧΜΗ ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗΣ ΤΟΥ ΑΜΟΡΦΟΥ ΥΔΡΟΓΟΝΩΜΕΝΟΥ ΠΥΡΙΤΙΟΥ ΜΕΤΡΙΕΤΑΙ ΜΕ ΜΕΓΑΛΗ ΑΚΡΙΒΕΙΑ ΣΕ ΕΥΡΕΙΑ ΠΕΡΙΟΧΗ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΩΝ: 100K-500K ΓΙΑ ΔΕΙΓΜΑΤΑ ΠΑΡΑΣΚΕΥΑΣΜΕΝΑ ΜΕ ΔΙΑΦΟΡΕΤΙΚΕΣ ΜΕΘΟΔΟΥΣ. Η ΠΕΙΡΑΜΑΤΙΚΗ ΤΕΧΝΙΚΗ ΠΟΥ ΧΡΗΣΙΜΟΠΟΙΕΙΤΑΙ ΑΦΟΡΑ ΣΕ ΜΕΤΡΗΣΕΙΣ ΔΙΑΠΕΡΑΤΟΤΗΤΑΣ ΚΑΙ ΑΝΑΚΛΑΣΤΙΚΟΤΗΤΑΣ. ΤΑ ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑΤΑ ΣΧΕΤΙΚΑ ΜΕ ΤΗΝ ΜΕΤΑΒΟΛΗ ΤΟΥ ΧΑΣΜΑΤΟΣ ΣΥΜΦΩΝΟΥΝ ΠΟΛΥ ΚΑΛΑ ΜΕ ΤΗΝ ΒΙΒΛΙΟΓΡΑΦΙΑ. Η ΜΕΤΑΒΟΛΗ ΤΗΣ ΠΑΡΑΜΕΤΡΟΥ ΟΥΡΜΠΑΧ ΑΠΟ ΤΟΥΣ100K ΣΤΟΥΣ 500K ΒΡΕΘΗΚΕ ΜΙΚΡΟΤΕΡΗ ΑΠΟ 5MEV. ΤΟ ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑ ΑΥΤΟ ΕΙΝΑΙ ΣΕ ΣΥΜΦΩΝΙΑ ΜΕ ΠΡΟΣΦΑΤΕΣ ΜΕΤΡΗΣΕΙΣ ΑΛΛΗΣ ΟΜΑΔΑΣ ΠΟΥ ΧΡΗΣΙΜΟΠΟΙΗΣΕ ΤΕΛΕΙΩΣ ΔΙΑΦΟΡΕΤΙΚΗΤΕΧΝΙΚΗ, ΕΝΩ ΑΝΤΙΤΙΘΕΤΑΙ ΣΤΟΝ ΓΕΝΙΚΑ ΠΑΡΑΔΕΚΤΟ ΣΥΣΧΕΤΙΣΜΟ ΜΕΤΑΞΥ ΤΟΥ ΧΑΣΜΑΤΟΣΚΑΙ ΤΗΣ ΠΑΡΑΜΕΤΡΟΥ ΟΥΡΜΠΑΧ ΠΟΥ ΠΡΟΤΑΘΗΚΕ ΑΠΟ ΤΟΝ CODY. ΟΣΟΝ ΑΦΟΡΑ ΤΟ ΔΕΥΤΕΡΟΘΕΜΑ, ΜΕΛΕΤΑΜΕ ΘΕΩΡΗΤΙΚΑ ΤΗΝ ΕΠΙΔΡΑΣΗ ΤΗΣ ΑΤΑΞΙΑΣ ΣΤΗΝ ΔΙΑΔΟΣΗ ΗΛΕΚΤΡΟΜΑΓΝΗΤΙΚΩΝ ΚΥΜΑΤΩΝ ΜΕΣΑ ΣΕ ΔΥΑΔΙΚΕΣ ΠΟΛΥΣΤΡΩΜΑΤΙΚΕΣ ΔΟΜΕΣ. ΘΕΩΡΟΥΜΕ ΔΟΜΕΣ ΜΕ ΑΤΑΞΙΑ ΣΤΟ ΠΑΧΟΣ ΤΩΝ ΣΤΡΩΜΑΤΩΝ. ΤΑ ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑΤΑ ΔΕΙΧΝΟΥΝ ΜΙΑ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

MY WORK FOCUSSES ON TWO SUBJECTS. THE FIRST DEALS WITH THE THERMAL VARIATION OF THE ABSORPTION EDGE OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON (A-SI :H), IN THE TEMPERATURE RANGE BETWEEN 100K AND 500K. THE EXPERIMENTAL TECHNIQUE USED IS THEMEASUREMENT OF TRANSMITTANCE AND REFLECTANCE SPECTRA. WE MEASURE A-SI:H SAMPLES PREPARED BY DIFFERENT DEPOSITION METHODS. THE GAP'S THERMAL VARIATION THAT WE FIND IS IN AGREEMENT WITH LITERATURE. THE VARIATION OF THE URBACH PARAMETER FROM 100K TO 500K IS FOUND TO BE LESS THAN 5MEV. THIS RESULT AGREES WITH THAT DERIVED FROM RECENT MEASUREMENTS OF AN OTHER GROUP, WHICH USED A NEW EXPERIMENTAL TECHNIQUE, NAMELY, TOTAL YIELD ELECTRON SPECTROSCOPY. ON THE CONTRARY IT IS IN OPPOSITION TO THE WIDELY ACCEPTED CORRELATION BETWEEN THE GAP AND THE DISORDER PARAMETER SUGGESTED BY CODY. AS TO THE SECOND SUBJECT, IT DEALS,THEORETICALLY, WITH THE EFFECT OF DISORDER ON THE PROPAGATION OF ELECTROMAGNETIC WAVES THROUGH BINARY MULTILAYER STRUCTURES. THE ...
περισσότερα
Η διατριβή αυτή δεν είναι ακόμα διαθέσιμη ηλεκτρονικά
DOI
10.12681/eadd/3142
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/3142
ND
3142
Εναλλακτικός τίτλος
ABSORPTION AND LOCALIZATION OF LIGHT IN AMORPHOUS SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND MULTILAYERS
Συγγραφέας
Κονδύλης, Αντώνιος
Ημερομηνία
1993
Ίδρυμα
Πανεπιστήμιο Κρήτης. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής
Εξεταστική επιτροπή
ΟΙΚΟΝΟΜΟΥ ΕΛΕΥΘΕΡΙΟΣ
ΤΖΑΝΕΤΑΚΗΣ ΠΑΝΑΓΙΩΤΗΣ
ΕΥΑΓΓΕΛΟΥ ΣΠΥΡΙΔΩΝ
ΚΕΛΙΡΗΣ ΠΑΝΤΕΛΗΣ
ΛΟΓΟΘΕΤΙΔΗΣ ΣΤΕΡΓΙΟΣ
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική
Λέξεις-κλειδιά
Αμόρφοτο πυρίτιο; Ανακλαστικότητα; Αταξία; Δείκτης διάθλασης; Διαπερατότητα; ΕΝΤΟΠΙΣΜΟΣ ΗΛΕΚΤΡΟΜΑΓΝΗΤΙΚΩΝ ΚΥΜΑΤΩΝ; Ημιαγωγοί; ΚΡΥΟΣΤΑΤΗΣ; ΜΗΚΟΣ ΕΝΤΟΠΙΣΜΟΥ; ΟΠΤΙΚΗ ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗ; ΠΕΡΙΟΧΗ ΟΥΡΜΠΑΧ; ΠΟΛΥΣΤΡΩΜΑΤΙΚΟ ΥΛΙΚΟ; ΣΥΝΤΕΛΕΣΤΗΣ ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗΣ; Τυχαιότητα; ΥΜΕΝΙΟ
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Αγγλικά
Άλλα στοιχεία
512 σ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.