Ανίχνευση και διάγνωση σφαλμάτων με εφαρμογές σε μικροηλεκτρομηχανικά συστήματα

Περίληψη

Σε αυτή την διατριβή παρουσιάζεται η ανάπτυξη μιας διαδικασίας Ανίχνευσης και Διάγνωσης Σφαλμάτων (ΑΔΣ) η οποία είναι ικανή να εντοπίζει απομονώνει και αναγνωρίζει πολλαπλά απότομα παραμετρικά σφάλματα. Η προτεινόμενη μέθοδος βασίζεται στην Αναγνώριση Συνόλου Συμμετοχής (ΑΣΣ) των παραμέτρων. Η διαδικασία ΑΣΣ αντιστοιχεί σε ένα πρόβλημα βελτιστοποίησης το οποίο αποσκοπεί στον υπολογισμό του ορθοτόπου η ελλειψοειδούς το οποίο περιέχει το ονομαστικό διάνυσμα παραμέτρων και τέμνεται με τον υπερχώρο δεδομένων. Ο μηχανισμός Ανίχνευσης Σφαλμάτων ενεργοποιείται όταν διακόπτεται η φυσιολογική λειτουργία της ΑΣΣ λόγω της κενής τομής μεταξύ των εκτιμώμενου παραμετρικού συνόλου και του υπερχώρου δεδομένων. Τη χρονική στιγμή ανίχνευσης ενός σφάλματος εφαρμόζεται μια διαδικασία επαναρύθμισης που σκοπεύει στον υπολογισμό του νέου παραμετρικού συνόλου το οποίο περιέχει το μεταβεβλημένο ονομαστικό διάνυσμα παραμέτρων και τέμνεται με το υπερχώρο δεδομένων. Κατά τη διάρκεια της διαδικασίας απομόνωσης του ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

This thesis presents the development of a fault detection and diagnosis (FDD) procedure capable of capturing isolating and identifying multiple abrupt parametric faults. The proposed method relies on parameter estimation deployed in a set membership framework. This approach presupposes the utilization of a linearly parametrizable model and the a priori knowledge of bounded noise errors and parameter perturbations. Under these assumptions a data hyperspace is generated at every time instant. The goal of set membership identification (SMI) is the determination of the parametric set formed as an orthotope or ellipsoid within which the nominal parameter vector resides and intersects with the data hyperspace. The fault detection mechanism is activated when the normal operation of the SMI procedure is interrupted due to an empty intersection of the data hyperspace and the estimated parametric set. At the detection instant a resetting procedure is performed in order to compute the parameter s ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/25796
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/25796
ND
25796
Εναλλακτικός τίτλος
Fault detection and diagnosis: application in microelectromechanical systems
Συγγραφέας
Ρέππα, Βασιλική του Δημήτριος
Ημερομηνία
2010
Ίδρυμα
Πανεπιστήμιο Πατρών. Σχολή Πολυτεχνική. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Τεχνολογίας Υπολογιστών. Τομέας Τηλεπικοινωνιών και Τεχνολογίας της Πληροφορίας
Εξεταστική επιτροπή
Τζες Αντώνιος
Γρούμπος Πέτρος
Κούσουλας Νικόλαος
Ποιμενίδης Τριαντάφυλλος
Μπερμπερίδης Κωνσταντίνος
Δερματάς Ευάγγελος
Καζάκος Δημοσθένης
Επιστημονικό πεδίο
Επιστήμες Μηχανικού και Τεχνολογία
Επιστήμη Ηλεκτρολόγου Μηχανικού, Ηλεκτρονικού Μηχανικού, Μηχανικού Η/Υ
Λέξεις-κλειδιά
Ανίχνευση σφαλμάτων; Απομόνωση σφαλμάτων; Αναγνώριση σφαλμάτων; Αναγνώριση συνόλου συμμετοχής; Ελλειψοειδή - ορθότοπα; Μικροηλεκτρομηχανικά συστήματα; Ηλεκτροστατικός μικροεπενεργητής; Ατομικό μικροσκόπιο
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
221 σ., ευρ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)