Δομική ευστάθεια και διαχωρισμός φάσεων σε λεπτά υμένια τριαδικών νιτριδίων και κραμάτων

Περίληψη

Σκοπό της παρούσας Διδακτορικής Διατριβής (ΔΔ) αποτέλεσε η διερεύνηση των δομικών και ηλεκτρονικών - οπτικών ιδιοτήτων τεσσάρων συστημάτων: α) των μεταλλικών υάλων και των νανοδομημένων κραμάτων, β) των δυαδικών νιτρίδιων και γ) των τριαδικών νιτρίδιων των μεταβατικών μετάλλων και τέλος δ) των νανοσύνθετων υμενίων κεραμικού μεταβατικού μετάλλου - ευγενούς μετάλλου. Σε κάθε περίπτωση, στόχο αποτέλεσε η κατανόηση της επίδρασης τόσο των συνθηκών εναπόθεσης όσο και της στοιχειομετρίας των συστατικών στοιχείων στη μικροδομή των τελικών υμενίων, έτσι ώστε να καταστεί δυνατή η διαμόρφωση των ιδιοτήτων των υμένίων ανάλογα με την περίπτωση. Για την κατασκευή των δειγμάτων χρησιμοποιήθηκαν δύο τεχνικές εναπόθεσης: η εναπόθεση με παλμικό λέιζερ (PLD) και η ιοντοβολή με την παρουσία μαγνητικού πεδίου (MS). Η χημική σύσταση των δειγμάτων μελετήθηκε με φασματοσκοπία ηλεκτρονίων Auger (AES) και με ηλεκτρονική μικροσκοπία σάρωσης (SEM). Ο δομικός χαρακτηρισμός των δειγμάτων συμπεριλάμβανε περίθλαση κα ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

The aim of the present PhD thesis is the detailed study of structural and electronic-optical properties of four systems: a)metallic glasses (MGs) and nanostructured alloys, b)binary and c)ternary transition metals nitrides and finally d) nanocomposites (transition metal nitride-nobel metal). In each case, our basic concern was to understand how deposition conditions and stoichiometry of the initial components affect film microstructure, so we can tailor films properties, depending on the application. Two deposition techniques used to grow the thin films: Pulsed Laser Deposition (PLD) and Magnetron Sputtering (MS). The chemical composition of the films studied by Auger Electron Spectroscopy (AES) and Scanning Electron Microscopy (SEM). For the structural characterization we used X-ray Diffraction (XRD), X-ray Reflectivity (XRR) and Transmission Electron Spectroscopy (TEM). The optical properties of the films determined by Spectroscopic Ellipsometry (SE), Optical Reflectance Spectroscopy ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/25280
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/25280
ND
25280
Εναλλακτικός τίτλος
Structural stability and phase separation of ternary nitrides and alloys thin films
Συγγραφέας
Ματενόγλου, Γρηγόριος (Πατρώνυμο: Μιχαήλ)
Ημερομηνία
2011
Ίδρυμα
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστήμης και Τεχνολογίας. Τμήμα Επιστήμης και Τεχνολογίας Υλικών
Εξεταστική επιτροπή
Πατσαλάς Παναγιώτης
Ευαγγελάκης Γεώργιος
Κομνηνού Φιλομήλα
Κοσμίδης Κωνσταντίνος
Καρακώστας Θεόδωρος
Καρακασίδης Μιχαήλ
Παναγιωτόπουλος Ιωάννης
Επιστημονικό πεδίο
Επιστήμες Μηχανικού και Τεχνολογία
Μηχανική Υλικών
Λέξεις-κλειδιά
Νιτρίδια; Κράματα; Νανοδομημένα; Λεπτά υμένια; Δομική ευστάθεια; Διαχωρισμός φάσεων; Δομικές ιδιότητες; Οπτικές ιδιότητες
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
202 σ., εικ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)