Μεθοδολογίες δοκιμής για πολυεπεξεργαστές και πολυπύρηνα ολοκληρωμένα κυκλώματα

Περίληψη

Οποιοδήποτε ολοκληρωμένο κύκλωμα από το πιο απλό ως το πιο σύνθετο είναι δυνατόν να παρουσιάσει εσφαλμένη λειτουργία η οποία μπορεί να οφείλεται σε ποικίλους παράγοντες. Κάποια κυκλώματα παρουσιάζουν ελαττώματα τα οποία εισήχθησαν κατά τη διάρκεια της διαδικασίας κατασκευής, ενώ βλάβες μπορεί να παρουσιαστούν και κατά τη διάρκεια της χρήσης τους. Για να καθοριστεί αν ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα έχει κατασκευαστεί σωστά, ή ότι συνεχίζει να λειτουργεί σύμφωνα με τον επιθυμητό τρόπο, πρέπει να περάσει από μια διαδικασία ελέγχου ορθής λειτουργίας που ονομάζεται δοκιμή. Παλαιότερα, η ανάγκη υψηλής αξιοπιστίας των ηλεκτρονικών κυκλωμάτων περιοριζόταν μόνο στους τομείς των στρατιωτικών και τραπεζικών εφαρμογών, όπου μια δυσλειτουργία μπορεί να είχε καταστροφικά αποτελέσματα. Καθώς όμως τα ηλεκτρονικά κυκλώματα παρουσιάζουν ευρεία εξάπλωση σε πολλούς τομείς της καθημερινής μας ζωής, ενώ παράλληλα το μέγεθος της τεχνολογίας κατασκευής τους συρρικνώνεται γρήγορα, η δοκιμή κατασκευής λαμβάνει σημαντ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

All integrated circuits from simplest to complex it is possible to present faulty operation which can happen due to various reasons. Several circuits present faults imported during the manufacturing process, while failures can also occur during their operation. In order to determine whether an integrated circuit has been manufactured correctly, or that it continues to provide the specified functionality, it should successfully pass a process called testing. Few years ago, the high reliability requirement in electronic circuits was limited in military and banking applications, where an erroneous operation can have devastating effects. However, as the electronic circuits present wide spread in several sectors of our day life, while at the same time the technology feature size shrinks fast, the manufacturing testing plays an important role in guaranteeing the quality and the reliability of end products. This PhD thesis proposes methodologies for self-testing problem of System-on-Chip, So ...