Μεθοδολογίες δοκιμής για πολυεπεξεργαστές και πολυπύρηνα ολοκληρωμένα κυκλώματα

Περίληψη

Οποιοδήποτε ολοκληρωμένο κύκλωμα από το πιο απλό ως το πιο σύνθετο είναι δυνατόν να παρουσιάσει εσφαλμένη λειτουργία η οποία μπορεί να οφείλεται σε ποικίλους παράγοντες. Κάποια κυκλώματα παρουσιάζουν ελαττώματα τα οποία εισήχθησαν κατά τη διάρκεια της διαδικασίας κατασκευής, ενώ βλάβες μπορεί να παρουσιαστούν και κατά τη διάρκεια της χρήσης τους. Για να καθοριστεί αν ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα έχει κατασκευαστεί σωστά, ή ότι συνεχίζει να λειτουργεί σύμφωνα με τον επιθυμητό τρόπο, πρέπει να περάσει από μια διαδικασία ελέγχου ορθής λειτουργίας που ονομάζεται δοκιμή. Παλαιότερα, η ανάγκη υψηλής αξιοπιστίας των ηλεκτρονικών κυκλωμάτων περιοριζόταν μόνο στους τομείς των στρατιωτικών και τραπεζικών εφαρμογών, όπου μια δυσλειτουργία μπορεί να είχε καταστροφικά αποτελέσματα. Καθώς όμως τα ηλεκτρονικά κυκλώματα παρουσιάζουν ευρεία εξάπλωση σε πολλούς τομείς της καθημερινής μας ζωής, ενώ παράλληλα το μέγεθος της τεχνολογίας κατασκευής τους συρρικνώνεται γρήγορα, η δοκιμή κατασκευής λαμβάνει σημαντ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

All integrated circuits from simplest to complex it is possible to present faulty operation which can happen due to various reasons. Several circuits present faults imported during the manufacturing process, while failures can also occur during their operation. In order to determine whether an integrated circuit has been manufactured correctly, or that it continues to provide the specified functionality, it should successfully pass a process called testing. Few years ago, the high reliability requirement in electronic circuits was limited in military and banking applications, where an erroneous operation can have devastating effects. However, as the electronic circuits present wide spread in several sectors of our day life, while at the same time the technology feature size shrinks fast, the manufacturing testing plays an important role in guaranteeing the quality and the reliability of end products. This PhD thesis proposes methodologies for self-testing problem of System-on-Chip, So ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/17988
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/17988
ND
17988
Εναλλακτικός τίτλος
Test methodologies for multiprocessors and multicore integrated circuits
Συγγραφέας
Αποστολάκης, Ανδρέας (Πατρώνυμο: Ιωάννης)
Ημερομηνία
2009
Ίδρυμα
Πανεπιστήμιο Πειραιώς. Τμήμα Πληροφορικής
Εξεταστική επιτροπή
Γκιζόπουλος Δημήτριος
Πασχάλης Αντώνιος
Βίρβου Μαρία
Κοζύρης Νεκτάριος
Σούντρης Δημήτριος
Κωνσταντόπουλος Χαράλαμπος
Ψαράκης Μιχαήλ
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Επιστήμη Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορική
Λέξεις-κλειδιά
Αυτοδοκιμή; Αυτοδοκιμή σε λογισμικό; Συστήματα σε ολοκληρωμένο κύκλωμα; Περειφερειακά επικοινωνίας; Πολυεπεξεργαστές; Χρονοπρογραμματισμός δοκιμής
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
212 σ., εικ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)