<?xml version="1.0" encoding="UTF-8" ?><OAI-PMH xmlns="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/OAI-PMH.xsd"><responseDate>2026-10-01T20:47:28Z</responseDate><request metadataPrefix="oai_dc" verb="GetRecord" identifier="oai:10442/1206">https://phdtheses.ekt.gr/eadd_oai/request</request><GetRecord><record><header><identifier>oai:10442/1206</identifier><datestamp>2024-07-10T06:39:31Z</datestamp><setSpec>hdl_10442_2</setSpec></header><metadata><oai_dc:dc xmlns:oai_dc="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd"><dc:description xmlns:lang="el">ΜΕΛΕΤΩΝΤΑΙ Ο ΤΡΟΠΟΣ ΠΑΡΑΣΚΕΥΗΣ ΚΑΙ ΟΙ ΗΛΕΚΤΡΙΚΕΣ ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΛΕΠΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΕΝΩΣΕΩΝ ΜΕΤΑΛΛΟΥ-ΠΥΡΙΤΙΟΥ (SILICIDES). ΜΕΤΑ ΤΗΝ ΠΑΡΑΣΚΕΥΗ, ΜΕ ΘΕΡΜΙΚΗ ΚΑΤΕΡΓΑΣΙΑ ΕΝ ΚΕΝΩ, ΤΩΝ ΛΕΠΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΤΩΝ ΕΝΩΣΕΩΝ ΜΕΤΑΛΛΩΝ-ΠΥΡΙΤΙΟΥ ΑΚΟΛΟΥΘΕΙ Η ΑΝΑΛΥΣΗ ΤΩΝ ΕΝΩΣΕΩΝ ΠΟΥ ΣΧΗΜΑΤΙΣΘΗΚΑΝ ΜΕ ΤΗΝ ΧΡΗΣΗ ΤΩΝ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ, ΦΑΣΜΑΤΟΣΚΟΠΙΑΣ ΟΠΙΣΘΟΣΚΕΔΑΣΕΩΣ RUFFER FORD ΚΑΙ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑΣ ΔΙΑΠΕΡΑΤΟΤΗΤΑΣ. ΑΚΟΛΟΥΘΕΙ Η ΜΕΛΕΤΗ ΤΩΝ ΗΛΕΚΤΡΙΚΩΝ ΙΔΙΟΤΗΤΩΝ ΤΩΝ ΕΝΩΣΕΩΝ ΠΟΥ ΠΡΟΚΥΠΤΟΥΝ Η ΟΠΟΙΑ ΠΕΡΙΛΑΜΒΑΝΕΙ ΤΗΝΜΕΤΑΒΟΛΗ ΤΗΣ ΕΙΔΙΚΗΣ ΑΝΤΙΣΤΑΣΕΩΣ ΣΥΝΑΡΤΗΣΕΙ ΤΗΣ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑΣ ΣΧΗΜΑΤΙΣΜΟΥ ΤΩΝ ΕΝΩΣΕΩΝ ΚΑΘΩΣ ΚΑΙ ΤΗΝ ΜΕΤΑΒΟΛΗ ΤΗΣ ΕΙΔΙΚΗΣ ΑΝΤΙΣΤΑΣΕΩΣ ΣΥΝΤΕΛΕΣΤΩΝ HALL, ΜΑΓΝΗΤΟΑΝΤΙΣΤΑΣΕΩΣ ΣΥΝΑΡΤΗΣΕΙ ΤΗΣ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑΣ ΣΤΗΝ ΠΕΡΙΟΧΗ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΩΝ ΑΠΟ 4.21 Κ ΣΤΙΣ 300 Κ. ΜΕΛΕΤΑΤΑΙ ΕΠΙΣΗΣ Η ΕΠΙΔΡΑΣΗ ΤΗΣ ΕΜΦΥΤΕΥΣΕΩΣ ΠΡΟΣΜΙΞΕΩΝ Α5 ΔΙΑΦΟΡΕΤΙΚΩΝ ΣΥΓΚΕΝΤΡΩΣΕΩΝ ΣΤΙΣ ΗΛΕΚΤΡΙΚΕΣ ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΤΩΝ ΛΕΠΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ. ΟΙ ΕΝΩΣΕΙΣ ΠΟΥ ΜΕΛΕΤΗΘΗΚΑΝ ΕΙΝΑΙ MOSI2, WSI2, TASI2, TISI2, UNSI1.73 ΚΑΙ RESI2.</dc:description><dc:title xmlns:lang="el">ΗΛΕΚΤΡΙΚΕΣ ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΛΕΠΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΜΕΤΑΛΛΟΥ-ΠΥΡΙΤΙΟΥ</dc:title><dc:title xmlns:lang="en">ELECTRICAL TRANSPORT PROPERTIES OF METAL-SILICON COMPOUNDS</dc:title><dc:creator xmlns:lang="en">Krontiras, Christoforos</dc:creator><dc:creator xmlns:lang="el">Κροντηράς,  Χριστόφορος</dc:creator><dc:date>1989</dc:date><dc:language>gre</dc:language><dc:subject xmlns:lang="el">Βομβαρδισμός με ιόντα</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">ΕΙΔΙΚΗ ΗΛΕΚΤΡΙΚΗ ΑΝΤΙΣΤΑΣΗ, ΦΑΙΝΟΜΕΝΟ HALL</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">Ηλεκτρικές ιδιότητες</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">Ηλεκτρική αντίσταση επαφής</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑ ΣΧΗΜΑΤΙΣΜΟΥ ΠΥΡΙΤΙΔΙΩΝ</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">Μαγνητοαντίσταση</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">ΠΡΟΣΔΙΟΡΙΣΜΟΣ ΑΤΕΛΕΙΩΝ ΠΥΡΙΤΙΔΙΩΝ</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">ΠΡΟΣΔΙΟΡΙΣΜΟΣ ΔΟΜΗΣ ΠΥΡΙΤΙΔΙΩΝ</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">Πυριτίδια</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">CONTACT RESISTIVITY</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">DEFECT ANALYSIS OF SILICIDES</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">ELECTRICAL RESISTIVITY</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">ELECTRICAL TRANSPORT PROPERTIES</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">Electromigration</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">FORMATION TEMPERATURE OF SILICIDES</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">Hall effect</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">ION BOMBARDMENT (ION IMPLANTATION) OF SILICIDES</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">PHASE IDENTIFICATION OF SILICIDES</dc:subject><dc:publisher xmlns:lang="en">University of Patras</dc:publisher><dc:publisher xmlns:lang="el">Πανεπιστήμιο Πατρών</dc:publisher><dc:subject xmlns:lang="el">Φυσικές Επιστήμες</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="el">Φυσική</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">Natural Sciences</dc:subject><dc:subject xmlns:lang="en">Physical Sciences</dc:subject><dc:fathernamelatin>A.</dc:fathernamelatin><dc:identifier>10.12681/eadd/1206</dc:identifier><dc:identifier>http://hdl.handle.net/10442/hedi/1206</dc:identifier><dc:type>PhD Thesis</dc:type></oai_dc:dc></metadata></record></GetRecord></OAI-PMH>